一、光伏組件隱裂的形成及分類

隱裂是晶體硅光伏組件的一種較為常見的缺點，淺顯的講，便是一些肉眼不可見的纖細(xì)破裂（micro-crack）。晶硅組件因為其自身晶體結(jié)構(gòu)的特性，非常容易發(fā)生破裂。在晶體硅組件生產(chǎn)的工藝流程中，許多環(huán)節(jié)都有或許形成電池片隱裂。隱裂發(fā)生的根本原因：外力：電池片在焊接、層壓、裝框或搬運、測試等進程中會受外力作用，當(dāng)參數(shù)設(shè)置不妥、設(shè)備故障或操作不妥時會形成隱裂。高溫：電池片在低溫下沒有通過預(yù)熱，然后在短時間內(nèi)忽然遇到高溫后呈現(xiàn)脹大會形成隱裂現(xiàn)象，如焊接溫度過高、層壓溫度等參數(shù)設(shè)置不合理。

原材料：原材料的缺點也是導(dǎo)致隱裂的主要要素之一。 依據(jù)電池片隱裂的形狀，大致可分為5個種類：樹狀裂紋、歸納型裂紋、斜裂紋、平行于主柵線、垂直于柵線和貫穿整個電池片的裂紋。

二、“隱裂”對組件性能的影響

        晶硅太陽能電池片發(fā)生的電流主要靠外表相互垂直的主柵線和細(xì)柵線收集和導(dǎo)出。因而，當(dāng)隱裂（多為平行于主柵線的隱裂）導(dǎo)致細(xì)柵線開裂時，電流將無法被有用輸送至主柵線，從而導(dǎo)致電池片部分甚至整片失效，還或許形成碎片、熱斑等，同時引起組件的功率衰減。

三、識別“隱裂”的方法

     EL（Electroluminescence，電致發(fā)光）是一種太陽能電池組件的內(nèi)部缺點檢測設(shè)備，是簡單有用的檢測隱裂的方法。利用晶體硅的電致發(fā)光原理，通過高分辨率的紅外相機拍照組件的近紅外圖畫，獲取并斷定組件的缺點。具有靈敏度高、檢測速度快、成果直觀形象等長處。下圖即是EL的檢測成果，清晰的顯示了各種缺點和隱裂。

四、形成“隱裂”的原因

      引發(fā)組件隱裂的要素許多，隱裂種類也許多，但不是所有的隱裂都會對電池片有影響，更不必談“隱”色變，只要科學(xué)的預(yù)防就能適當(dāng)防止組件發(fā)生隱裂。在生產(chǎn)進程中，應(yīng)防止電池片遭到不妥的外力介入，也留意貯存環(huán)境溫度改變規(guī)模。在焊接進程中電池片要提前保溫(手焊)烙鐵溫度要符合要求。在組件生產(chǎn)、運送、裝置和保護進程中，考慮到晶硅組件的易裂特征，需要在裝置電站的各個進程留意并改善作業(yè)流程，盡量削減組件隱裂的發(fā)生。

五、預(yù)防光伏組件隱裂的要點

     在生產(chǎn)進程中以及后續(xù)的存放、運送、裝置中防止電池片遭到不妥的外力介入，也留意貯存環(huán)境溫度改變規(guī)模。